Sympatec_雷射粒徑分析儀_微米級(um)
1.專利設計之乾式分散系統 RODOS。
2.HELOS 獨家光路設計和分段測試程式。
3.HELOS+RODOS 具有瞬間分散,瞬間量測之技術,每個樣品測試時間小於10秒。
4.測量精確度高,分次取樣機台偏差值小於 0.3%,同機型不同機台之間比較,誤差值小於 1%。
5.遵守 ISO13320,採用 Mie 氏計算模型及費氏計算模型。
1.專利設計之乾式分散系統 RODOS。
2.HELOS 獨家光路設計和分段測試程式。
3.HELOS+RODOS 具有瞬間分散,瞬間量測之技術,每個樣品測試時間小於10秒。
4.測量精確度高,分次取樣機台偏差值小於 0.3%,同機型不同機台之間比較,誤差值小於 1%。
5.遵守 ISO13320,採用 Mie 氏計算模型及費氏計算模型。